HOME
|
製品案内
|
会社案内
|
御問合せ及びカタログ請求
|
更新情報
製品案内
- 膜厚/形状/三次元測定 -
濃度反射分光装置
光濃度式膜厚計
レジスト・誘電体膜厚計
スペクトロ共焦点測定装置
TAPEフィルム上レジスト膜厚計
三次元表面形状測定装置
- PDP関連 -
インライン・PDP厚み測定装置
PDP 誘電体/Ito/Mgo 測定装置
PDP リブ・電極 高さ測定装置
製品案内 Topページへ
膜厚/形状/三次元測定
濃度反射分光装置
光濃度式膜厚計
レジスト・誘電体膜厚計
スペクトロ共焦点測定装置
TAPEフィルム上レジスト膜厚計
三次元表面形状測定装置
PDP関連
インラインPDP厚み(高さ)測定装置
PDP誘電体・ITO・Mgo測定装置
PDP リブ・電極 高さ測定装置
非接触・三次元で表面形状計測可能
[仕様]
測定原理
顕微共焦点方式
測定範囲
0〜300μm
Z軸分解能
0.01μ
精度
0.1μ
スポット径
5μm
サンプリング周波数
100Hz,300Hz
モニター
CCDカメラ
仕様・価格等、製品の詳細については御問合せ下さい。
info@youi.co.jp
Copyright (C) 2003 Youi-Giken. All Rights Reserved.