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膜厚/形状/三次元測定
PDP関連

 

 

 

　
　

 

 

［摘要］

  • TAPE,BGA,CSP上緑色レジスト膜
  • 各種基板上着色レジスト膜

［特長］

  • インライン測定に最適
  • 小型で、廉価なので多点モニターが可能
  • 高性能、高安定
  • 下地が荒れていても可
  • 2波長測定方式なので長大(数100M)でも安定

［仕様］

測定スポット 100mmΦ
ワークディスタンス 15mm
表示 2桁表示（○.○μm）
迷光 光学的電気的除去
環境 なるべく暗所にて測定。直射光下は避ける。
コントローラー 1台で3CHまで測定可
測定範囲 2〜8μm

 
仕様・価格等、製品の詳細については御問合せ下さい。 info@youi.co.jp
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